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該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成度穩源;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換,行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,從而提了測量結果的準確度。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換,在計算機控制下行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換,在計算機控制下行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器廣泛應用于太陽能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測試,半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
儀器以大規模集成電路為核心件,采用平面輕觸式開關控制,及各種作狀態LED示.應用微計算機,利用GSZ-HQ-710E型測量數據處理器,使得測量讀數更加直觀、快速,并能實現晶片厚度自行修正,打印出預置和測量、計算數據。整套儀器體積小、耗低、測量度、測試速度快、穩定性好、易操作。