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該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。

方型四探針探頭是種門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，用于測量小樣品的四探針探頭，可用于般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。