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型號:HAD-LJ350T

激光塵埃粒子計數器

描述:激光塵埃粒子計數器 型號:HAD-LJ350T

HAD-LJ350T本儀器是根據新版GMP(2010版)的要求,該產品整體體采用316L不銹鋼制作的外殼。激光傳感器采用半導體激光器及半導體光敏二管接收器,確保光源的穩定性和信號接收器的準確度。大大減少了散射腔內的雜散射光,提了傳感器的信噪比。采用LCD液晶觸摸屏控制,使的顯示數據清晰,操作方便。該儀器可根據客戶選擇的標準,自動判斷出

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-05-05
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1.激光塵埃粒子計數器  型號:HAD-LJ350T

激光塵埃粒子計數器HAD-LJ350T本儀器是根據新版GMP(2010版)的要求,該產品整體體采用316L不銹鋼制作的外殼。激光傳感器采用半導體激光器及半導體光敏二管接收器,確保光源的穩定性和信號接收器的準確度。大大減少了散射腔內的雜散射光,提了傳感器的信噪比。采用LCD液晶觸摸屏控制,使的顯示數據清晰,操作方便。該儀器可根據客戶選擇的標準,自動判斷出各種凈化等。該產品廣泛應用于療,制藥,電子,化學,光學,食品,化妝品,生物制品,航空航天及各種檢測機構用作塵埃粒子的檢測.

HAD-LJ350T主要參數:
光源 半導體激光器, 壽命大于10年>30000h
采樣量 50L/min (1.77ft3)  口氣泵
顯示方式 155×85mm分辨率液晶觸摸屏顯示(LCD) 中文界面、實時顯示、上周期顯示、實時濃度顯示、可顯示時間、日期、測量值、溫濕度、房間號、采樣點、采樣次數、狀態等參數、 95% UCL 計算, 可直接顯示粒子濃度 (顆/立方米)
供電電源 內置鋰電池 
作時間 2 小時
計數模式 累計值,差值,濃度值
測試方式 單、重復、連續、計算、遠程、
單位換算 單位可換算成m3
粒徑通道 0.3 、 0.5、 1.0、3.0、 5.0、 10.0μm, 或0.5, 1, 3, 5, 10, 25 μm六檔粒徑同時計數.粒徑可根據客戶需要訂制
采樣周期 1~9999 (S)      延時計數:0~99(S )     自凈時間:≤10 (min ) 
作環境 溫度:0~40℃ (50~104℉)      相對溫度:20~90%RH,無凝露.      大氣壓力:86-106KPa
溫濕度: 選購   (1)溫度:0~50℃±1℃.    (2)濕度:0~RH±5%
UCL設置 采樣點數(A):2~9點設定。 每點采樣次數:(L)2~9次設定      測量位置:0-999
UCL報表 符合ISO14644-1、GB50073-2001、 GMP(2010)
數據存儲 可存儲1000組數據(循環式緩沖區)(包括粒徑、數據、環境數據、年、月、日、時間,采樣量,數據位置口),斷電后數據不丟失。
通訊接口 RS232,9600波率
報警設置 儀器帶別報警能,可對潔凈室100,1000,10000,100000,300000,1000000標后報警, 同時符合新版GMP標準的A/B/C/D四個別靜態和動態標準的測量 /四種標準切換測量  
零計數 符合JJF-1190-2008塵埃粒子計數器計量校準規范及 JIS B9921:2010     每五分鐘少于1個
重疊誤差 5 %,2,000,000粒/立方英尺時
打印能 熱敏打印機
重量 8kg
校準 可滿足JJF-1190-2008塵埃粒子計數器計量校準規范及ISO/FDIS21501-4:2007(E)潔凈室光散射塵埃粒子計數器校準方法,可追溯至上海計量測量研究院也可自行行校準或三方家計量機構行校準,也可追溯美家標準協會(NIST),,我公司已通過家計量建標考核,我公司的標準塵埃粒子計數器已參加了各省計量機構參與的塵埃粒子計數器量值比對,并為相關計量檢測機構作為行塵埃粒子計數器計量校準作時的標準粒子計數器使用。
標準配置 業等動力采樣頭、帶采樣管的采樣支架、USB轉RS 232模塊、RS 232連接線、電腦連接通訊軟件光盤,內置打印機, 鋁合金箱、操作手冊、出廠檢測報告、零計數過濾器、充電器、采樣架、打印紙。
外形尺寸 230×230×230(mm)

 

2.雙棱鏡光干涉實驗儀      型號;HAD-FD-FBI-B

1826年法家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分,形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有以下優點:

1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源,半導體激光經大幅度降低光強處理,用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點,可很方便調出圖像清晰干涉條紋,也為鈉光干涉條紋調節帶來方便,測量二種光的波長行。

2.導軌和轉盤采用強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用、手感好。

3.帶有黑色擋光罩,可在白光及通風條件下做光學實驗。

本儀器可供大院?;A物理實驗和性研究性物理實驗。

應用本儀器可以成以下實驗:

1.觀察雙棱鏡的干涉現象。

2.測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。

3.觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。

儀器主要參數:

1.導軌 長80.0cm,分度值1mm;滑塊5只,其中1個滑塊上帶轉動裝置。

2.帶轉盤的狹縫 縫寬約0.04mm。

3.測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm,分度值0.01mm。

4.光源 半導體激光器,光波長650.0nm,已大幅度衰減光強。作電壓直3V。

5.鈉光燈及電源(選配)。

3.單絲和單縫衍射實驗儀       型號;HAD-FD-OE-5

 

單絲、單縫和小孔衍射實驗是校理科基本光學實驗之。本儀器用半導體激光器為光源,觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費衍射現象,以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響,加深對光的衍射理論的理解,并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。本儀器有以下優點:

  1.光具座用強度優質鋁合金材料制成,表面經陽氧化處理,儀器重量輕,體積小,經久耐用,不生銹,使用壽命長。

  2.配有各種直徑的單絲(包括用支架)、小孔和不同縫寬的單縫,觀察各種衍射現象,物理現象明顯。采用非接觸測量方法,測量金屬絲直徑和細縫縫寬的準確度較。

  3.光具座的滑塊可離開導軌自由在桌面上移動,以增加白色象屏與單絲(或單縫)距離,用米尺可準確測出它們之間距離(滑塊與導軌經門)。

  應用本儀器可以成以下實驗:

  1.用于基礎物理實驗作光衍射實驗用。

  2.作性與綜合性學生物理實驗。

  3.可用于課堂光衍射實驗及自學物理實驗。

  儀器主要參數:

  1.光具座 底座長度50.0cm,其分度值1mm,底座質量2.5Kg。(長度可定做)

  2.滑塊三只,滑塊側面有門刻線,便于測量屏到縫的直線距離。

  3.單絲、小孔和狹縫支架個。

  4.半導體激光器及用電源,激光波長650nm,激光器作直電壓3V。

 

4.太陽能電池性測定儀      型號;HAD-FD-OE-4

 能源的重要性人人皆知,為了經濟持續發展及環境保護,人們正大量開發其它能源如水能、風能及太陽能的利用。其中以硅太陽能電池作為綠色能源其開發和利用大有發展前景。本儀器提供的實驗,意在提學生對太陽能電池的性的認識,學習研究太陽能電池的基本光電性,學會電學與光學的些重要實驗方法及數據處理方法。儀器具有以下優點: 1.采用強度優質鋁合金材料制成,表面經陽氧化處理,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。采用數字式光率計測量光強,測量結果穩定可靠。2.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同實驗室各組實驗互不干擾。

  應用本儀器可以成以下實驗:

  1.在沒有光照時,太陽能電池作為個二器件,測量在正向偏壓時該二器件的伏安性曲線,并求出其正向偏壓時,電壓與電關系的經驗公式。

  2.測量太陽能電池的短路電、開路電壓、大輸出率及填充因子。

  3.測量太陽能電池的短路電、開路電壓與相對光強的關系,求出它們的近似函數關系。

  本儀器可用于校、中、職校基礎物理實驗及性、研究性的物理實驗,也可用于物理奧林匹克競賽培訓用。

  儀器主要參數:

  1.光具座 鋁合金制,標尺長80.0cm,分度值1mm,燕尾形凸形導軌結構。

  2.滑塊二塊 燕尾形凹滑塊結構,鋁合金制。

  3.光源 率40W射燈形結構。

  4.帶探測器數字式光率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示。

 

5.固體介質折射率測定儀      型號;HAD-FD-OE-3

折射率是反映介質光學性質的重要參數之。本儀器采用的實驗方法,在光學測量中具有典型性和基本要求的點。用測布儒斯角的方法測量透明介質的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數方法,測量分半導體如硅、砷化鎵等介質的折射率。本儀器具有體積小,重量輕,調節方便,裝置牢靠,實驗數據穩定可靠等優點。本儀器可用于基礎物理實驗,性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。本儀器具有以下優點:

  1.采用強度優質鋁合金材料制成,表面經陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。

  2.帶有刻度的轉盤經心和,轉動輕巧靈活,讀數準確。

  3.采用數字式光率計測量偏振光光強,測量結果穩定可靠。

  4.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同實驗室各組實驗互不干擾。

  應用本儀器可以成以下實驗:

  1. 光的偏振現象的觀察和分析,加深對光偏振規律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。

  2. 用布儒斯定律,測量對可見光透明固體材料的折射率。

  3.通過測量偏振光二個分量入射到介質上反射光的反射系數,測量半導體硅等材料的折射率。

  儀器主要參數:

  1. 半導體激光器 波長650nm,率 1.5-2.0mW,作電壓3V。

  2. 轉盤 直徑為2.0cm,可調范圍0-360°,分度值1°。

  3.水平光學轉臺 可 0-360゜轉動,分度值 1°。

  4.數字式光率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示。

 溫馨提示:以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的

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