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品牌 | 恒奧德 |
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光學溫計型號:SYB-WGG2-201 | ||
SYB-WGG2型光學溫計時非接觸式測量溫的儀表,當被測量的溫度于熱電偶所能使用的范圍,以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所,用光學溫計般可以滿足這個要求。 它廣泛地用來測量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窯、鍛打、熱處理等溫度,是冶煉、化和機械等業過程中*的溫度測量儀表之。 主要標 SYB-WGG2型光學溫計能在環境溫度10~50℃,相對濕度不大于85%的情況下連續作。 物鏡與目標之間的距離不小于700毫米。 標尺長度不小于90毫米。 凈重約1.8公斤。 型號規格 測量范圍℃: 700~1500 允許基本誤差℃:(800~<900)±33,(900~1500)±22,800℃以下僅作參考 測量范圍℃1200~2000允許基本誤差℃:±30 | 光學溫計SYB-WGG2-201 |
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產品名稱:方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 產品型號:HAD-WSP-51 |
方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 型號:HAD-WSP-51
HAD-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡稱方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。
本測試儀可贈設電池供電,適合手持式變動場合操作!
儀器所有參數設定、能轉換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉換量程;測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長;測試結果由數字表頭直接顯示。
三、四探針測試儀基本參數
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
電 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方塊電阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸(手持式)
直 徑: 測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(或)度: 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB |
4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg