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型號:SYB-WGG2-201

光學溫計 光學溫度計 溫度計SYB-WGG2-201

描述:SYB-WGG2型光學溫計時非接觸式測量溫的儀表,當被測量的溫度于熱電偶所能使用的范圍,以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所,用光學溫計般可以滿足這個要求。

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2016-11-23
  • 訪問量

    1569
詳細介紹
品牌恒奧德

 

光學溫計型號:SYB-WGG2-201 
 
SYB-WGG2型光學溫計時非接觸式測量溫的儀表,當被測量的溫度于熱電偶所能使用的范圍,以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所,用光學溫計般可以滿足這個要求。

  它廣泛地用來測量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窯、鍛打、熱處理等溫度,是冶煉、化和機械等業過程中*的溫度測量儀表之。

主要標

  SYB-WGG2型光學溫計能在環境溫度10~50℃,相對濕度不大于85%的情況下連續作。

  物鏡與目標之間的距離不小于700毫米。

  標尺長度不小于90毫米。

  凈重約1.8公斤。

型號規格

測量范圍℃: 700~1500
允許基本誤差℃:(800~<900)±33,(900~1500)±22,800℃以下僅作參考
測量范圍℃1200~2000允許基本誤差℃:±30








 
光學溫計SYB-WGG2-201

 

 

 

 

2.

產品名稱:方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀
產品型號:HAD-WSP-51

方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀  型號:HAD-WSP-51

HAD-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡稱方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。

本測試儀可贈設電池供電,適合手持式變動場合操作!

儀器所有參數設定、能轉換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉換量程;測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長;測試結果由數字表頭直接顯示。

三、四探針測試儀基本參數

1. 測量范圍、分辨率

電    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

電 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方塊電阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測半導體材料尺寸(手持式)

直        徑:  測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

長(或)度:  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等

 

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

 

4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重:≤0.5kg

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