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1.半導體性曲線分析儀TCT-2003
半導體性曲線分析儀TCT-2003
半導體性曲線分析儀
可程式控制面板操作 (GPIB 標準介面)
參數的量測狀態直接顯示在 CRT 上
利用游標能可判定元件 GO/NO-GO
zui大集電10A(Pulse 40A),5A/DIV
zui小集電100pA/DIV
zui大集電壓 2kV,500V/DIV
量測狀態與數據可儲存于內記憶體(16組)或軟式磁碟機
(64組)
可接繪圖機
標
掃描電源 | 型號 | TCT-2003 | TCT-2004 | TCT-2005 |
型式 | AC,波整,DC | |||
電壓 | 0~2kV | |||
限電阻 | 0~1MΩ,20點 | 0~10MΩ,23點 | 0~1MΩ,20點 | |
階梯波電源 | 型式 | 階梯波 階梯脈波 (300μs) | 階梯波 階梯脈波 (80,300μs) | 階梯波 階梯脈波 (300μs) |
電壓/步階 | 50mV~2V(×1,×0.1) | 50mV~2V | ||
電/步階 | 50nA~200mA(×1,×0.1) | 50nA~200mA | ||
垂直軸 | 集電/格 | 2nA~2A (×1,×0.1)? | 1μA~5A (×1,×0.1) | 2nA~2A (×1,×0.1) |
射電/格 |
| 1nA~5mA (×1,×0.1) |
| |
水平軸 | 集電壓/格 | 50mV~200V? (×1,×0.1) | 50mV~500V (×1,×0.1)? | 50mV~200V (×1,×0.1) |
基電壓/格 | 50mV~2V(×1,×0.1) | 50mV~5V (×1,×0.1) | 50mV~2V (×1,×0.1) | |
GPIB介面 |
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內記憶體 |
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軟碟機 |
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游標讀值 |
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繪圖機輸出 |
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2.玻璃析晶電爐/電爐 型號:HAD-SG
、概述
由于玻璃的內能較同組成的晶體為,所以玻璃處于介穩狀態,在定條件下存在著自發地析出晶體的傾向。這種出現晶體的現象叫做析晶,又稱失透或反玻璃化。測定玻璃析晶性能就是測定玻璃的析晶溫度范圍,上限和下限以及在該溫度范圍內玻璃的析晶程度,根據測定結果可以制定合理的溶制,成形和熱制度,從而避免析晶的產生,得到透明而理想的玻璃制品。
該儀器設備采用梯度爐法測定玻璃的析晶性能,廣泛應用于廠、學校、科研單位用于分析測試玻璃等非金屬材料的析晶性能。對掌握其,成形具有導性作用。
二、主要參數
1、 爐膛尺寸:Φ60×1000mm(可根據用戶需求訂做)
爐管材料:99剛玉
2、 爐膛zui溫度:1400℃
3、 加熱元件:硅碳棒 16支
4、 作溫度梯度區間:400mm
2點電腦程序控溫:室溫~1400℃
測溫熱電偶:S分度號 控溫2支,試樣測溫1支
溫度梯度:20℃/cm可調
5、 試樣瓷舟:99剛玉;推裝置:手動
6、 觀察孔直徑:Φ50mm(石英玻璃)
3.材料耐火度測試儀/材料耐火度檢測儀 型號:HAD-CJY-II
本儀器是用于測量型材料的原砂、混合料、玻璃和陶瓷原料燒結點溫度、耐火度的種溫、透射投影裝置。它可使試驗者在鏡屏上清晰地看到試樣在溫情況下,材料試樣的體積收縮、膨脹純化及化的情況并得知各種情況發生時的相應溫度。廣泛用于鑄、陶瓷、玻璃等行業及教學、科研。
、參數
1、試驗溫度溫度范圍: 1700℃。
2、加熱速度: 1.5小時可達1700℃,也可根據需要調節。
3、影像放大倍率:8~9倍,成像畫面配坐標系統可簡易量化膨脹、收縮數據。
4、zui大耗: 2 KW
5、試樣zui大尺寸:Ф7×8 mm
6、根據用戶要求可配置CCD攝像及計算機圖像處理系統,所有試驗操作均計算機界面成,操作方便易學并提供套軟件。
二、儀器的組成
本儀器是由光源、鉬絲爐、投影裝置、電氣控制箱、制樣器五份組成。
1、采用12V、30W光源燈泡發光經聚光鏡片聚光,整個裝置在三角形導軌上,根據需要可前后移動,聚光筒上下左右亦可行調整。
2、加熱采用管式電阻爐,升溫速度可手動、程序控溫調節,爐膛試驗區溫度梯度±15℃。
3、投影分:來自聚光鏡的平行光線,通過爐膛,將爐膛內試樣投影到投影分的放大鏡頭上。經棱鏡折射到平鏡上來,再由平鏡反射到乳白毛玻璃的鏡屏上,試驗人員從而可清晰地看到爐內試樣隨溫度變化而產生的收縮、膨脹、鈍化及化的投影圖像。
4、電氣分:采用電腦溫控儀行控制,使其升溫速度及控制度得到很好的保證,具體操作詳見其使用說明書
4.介電常數測試儀/介電常數檢測儀 型號;HAD-STD-A
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提材料的性能提供依據;該儀器廣泛應用于大院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應用研究。
主要標
1.頻率范圍及刻度誤差
范圍:50KHz~50MHz共分七個波段,允許誤差:+2%
1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz
1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值測量范圍及誤差
范圍:5~500
誤差:1)當頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%
2)當頻率從25~50MHz,所有量程均為+10%
3)△Q范圍:-25 ~ 0 ~ +25。
3.電感測量范圍及誤差:范圍:0.1μH~100mH,誤差:+5%+0.01μH
4.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時);
Φ25~35mm(ε=12~30時)Φ15~20mm(ε>30時)。
5.智能式壓縮強度試驗機/壓縮強度試驗機/壓縮強度試驗儀 型號:HAD-SGY-II
本儀器滿足GB8489-87,GB/20473-2006、GB8813-2008《硬質泡沫塑料壓縮性能的測定》中壓縮性能檢測方法及抗壓強度的檢測,適用于陶瓷、石材、耐火材料、硬質泡沫、保溫砂漿等材料等非金屬材料的抗壓強度及壓縮強度測試.
主要參數
1、 zui大載荷:1T、2T、5T\10T\30T選;
2、 加荷速率:50-7KN/min可調;
3、 抗壓強度試樣尺寸:≤Ф80mm(可根據客戶要求訂做其它規格尺寸);
4、可檢測不同壓力下的變形量,位移形變檢測范圍:0-40mm;
5、 連計算機控制,軟件數據處理,并生成測試報告;
6、 三相380V。
溫馨提示:以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的