BZ-X-5600是種體現X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。可行無鹵素(氯Cl、溴Br、碘I)測量它采用低率小型X光管為激發源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司門開發的應用軟件,充分發揮各件的優異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。
ROHS及無鹵素檢測儀規格:
激發源:本機采用低率 X 射線管(Ag靶),zui電壓可達50KV,zui大電1mA
壓電源:zui大50W,50KV,1mA
探測器:電制冷 Si PIN半導體探測器(55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優于149eV)
多道分析器:2048道
軟件:基于WINDOWS的強大作軟件。定量分析包括:經驗系數法,理論a系數法和基本參數法。定性分析包括: KL線標記,譜圖和光標尋峰等??蛻艨尚卸伍_發,自行開發意多個分析方法。
6電源:交220V 50Hz
7體積:520mm x 600mm x 270mm
8重量:約 42kg (主機)
ROHS及無鹵素檢測儀性能:
測量元素范圍寬:從鋁(13)至鈾(92)都可測量
可測量含量范圍,從ppm至
測量速度快,通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時定性定量
蜂位漂移:八小時小于1%
口探測器的性能標:
探測器類型:電制冷Si-PIN
探測面積:2.4x2.8mm(6mm2)
硅活化區厚度:500um
探測器分辨率: 對于55Fe,@5.9keV 對于12us的形成時間,半寬為149Ev
探測器窗口:鈹窗,12.5um厚
口壓電源規格:
電壓和電從零至滿量程連續可調,zui大50KV,1mA
電壓調整率:負載調整率:從空載到滿載,電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率:對于規定的輸入電壓范圍,該數值為滿量程的0.01%
電調整率:負載調整率:從空載到滿載,電變化為滿量程0.01%
線性調整率:對于規定的輸入電范圍,該數值為滿量程的0.01%
穩定性:經過半小時預熱后,每8小時變化不0.05%
溫度系數:溫度變化度,電壓變化不過0.01%
ROHS及無鹵素檢測儀詳細參數:
測量范圍:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl
測量度:低于100ppm時度15ppm,大于100ppm時,度15%
分析元素:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl
檢出限:Pb:3.2 mg/kg (ppm)
Hg:3.2 mg/kg (ppm)
Cr:4.1 mg/kg (ppm)
Cd:5.8 mg/kg (ppm)
Br:3.1 mg/kg (ppm)
Cl:2.4 mg/kg (ppm)
測量時間:30秒——120秒可選
X射線源:X光管
作環境溫度:10℃——45℃
作環境濕度:20%——80%
壓器:50Kv
操作系統:windows XP