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型號:HAD-WZZ-3

數字式自動旋光儀/

描述:數字式自動旋光儀/參數:

測量范圍:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z
Z小讀數值:0.001°
準確度:±(0.01°+測量值×0.05%),±(0.03°Z+測量值×0.05%)
重復性:≤0.003°,≤0.03°Z
可測樣品Z低透過率:10%
質量:28kg
外形尺寸:600mm×310mm×212mm

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-04-28
  • 訪問量

    604
詳細介紹
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1:數字式自動旋光儀/自動旋光儀 型號:HAD-WZZ-3

點:采用光電檢測和微機控制,128X64位元液晶顯示,可測試比旋度、旋光度、糖度、可自動復測并計算均值和均方根,配有RS232接口,可向PC機傳送數據。


數字式自動旋光儀/參數:

測量范圍:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z
zui小讀數值:0.001°
準確度:±(0.01°+測量值×0.05%),±(0.03°Z+測量值×0.05%)
重復性:≤0.003°,≤0.03°Z
可測樣品zui低透過率:10%
質量:28kg
外形尺寸:600mm×310mm×212mm  





2:側面光檢測儀 側面光測試儀 型號:QXH-CM-3

側面光檢測儀 側面光測試儀用途

QXH-CM-3型側面光檢測儀是依據中華人民共和家標準GB11614-2009《浮法玻璃》要求,用于檢測浮法玻璃外觀缺陷的輔助設備,與外觀檢測儀配合使用,可以測試浮法玻璃各種缺陷的數量和尺寸,是浮法玻璃企業的質檢設備。

二、側面光檢測儀 側面光測試儀原理

QXH-CM-3型側面光檢測儀在封閉的燈箱內裝有碘鎢燈,燈箱上有可以開啟的狹縫,玻璃橫插入狹縫向前運行,光線從玻璃斷面射入玻璃,由于玻璃上各種缺陷對光線的漫射,缺陷在玻璃板面上呈現亮點,記下亮點的位置,用外觀檢測儀和讀數顯微鏡檢測缺陷的種類和大小。

三、側面光檢測儀 側面光測試儀參數

1、光源:碘鎢燈 率:1000W

2、狹縫開啟的zui大寬度:20㎜

3、狹縫與光源間距:100㎜

4、設備尺寸:1330㎜×750㎜×900㎜

5、電源:AC.220V




3:壓電加速度傳感器/壓電式壓力傳感器 型號:HAD/8602

標性 型號
HAD/8601 HAD/8602 HAD/8603
量程 ±50,±100g ±200,±500g ±300,±500g
靈敏度 ~60,~30pC/g ~25,~10pC/g ~2,~1pC/g
過載 能力 振動 150%F.S 150%F.S 150%F.S
沖擊 2000g,3000g 5000g 5000g,7000g
固有頻率 6kHz,15kHz 8kHz,12kHz 12kHz,15kHz
非線性 ≤5% ≤5% ≤5%
橫向靈敏度比 ≤5% ≤5% ≤5%
作溫度 -45~80℃ -45~80℃ -45~80℃
安裝方式 M5螺柱 M5螺柱 M5螺柱
應用 通用性 通用性 溫、頻振動測量





4:手動涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 型號:HAD-III

薄層手動涂敷器/手動涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 , 共有三種型號 :

HAD-I 型為涂敷 10cm 寬薄層板,配有個小型 10cm

寬涂敷框,制備5x10,10x10,20×10cm薄層板

HAD-II 型為涂敷 20cm 寬薄層板,配有個大型 20cm

寬涂敷框,制備板規格為 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄層板。

HAD-III 涂敷器 綜合了 I 型和 II 型的優點和結構方式,

配有大小兩種涂敷框,在個涂板座上

可成上述各種規格薄層板的制備作 薄層板均能涂敷

材質:鋁合金噴塑,*生銹,經久耐用。。涂敷框可調層厚度0.02-2mm。

詳細說明 鋪板.doc





5: 靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導電微晶靜電場描繪儀型號:HAD/GVZ-3

靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導電微晶靜電場描繪儀主要參數:

1.HAD/GVZ-3型為雙層,同步探針,內置四種電板(同心圓、平行導線、聚焦、劈尖形或飛機機翼電場)。
2.規格為410mm*240mm,100mm,K4-2導線。
3.微晶導電層的均勻性,實驗值誤差為小于2%。
4.電源輸出范圍(直)為7.00v—13.00V,分辨率為0.01V。
5.采用多圈電位器調節電壓,調節細度可達0.01V。

四種電(配數碼管電源3位半)
(同心圓R為7cm,r為1cm, 其他電距離均為10cm)
1. 靜電場描繪實驗儀/靜電場描繪試驗儀/導電微晶靜電場描繪儀儀器簡介
本儀器采用各向均勻導電的微晶導電板,在其上面安置些不同的金屬電。當有直電經兩個電在導電板上通過時,由于微晶導電板相對于金屬導體電導率低得多,故在兩個電間沿電線會存在不同的電勢,這種不同的電勢可用數字電壓表直接測出來。分析各測量點電勢的變化規律,就可間接地得知相似的靜電場中電勢分布規律。
2.使用方法
(1)接線:
靜電場用穩壓電源輸出+(紅)接線柱用紅色電線連接描繪架(紅)、-(黑)接線柱用黑色電線連接描繪架(黑)接線柱。用穩壓電源探針輸入+(紅色)接線柱用紅色電線連接探針架連接線柱。將探針架好,并使探針下探頭置于導電微晶電上,啟動開關,校正,后測量。
(2)測量:
開啟測量開關,如數字顯字為0 V,則移動探針架至另電上,數字顯10 V,般常用10 V,便于運算。然后縱橫移動探針架,則電源電壓表頭顯示讀數隨著運動而變化。如要測0 V~10 V間的何條等勢(位)線,般可選0 V~10 V間某電壓數據相同的8~10個點,再將這些點連成光滑的曲線即可得到此等勢(位)線。
(3)記錄:
實驗報告都需要記錄,以備學生計算或驗證,對模擬法作深刻研究,則需在描繪架上鋪平白紙,用橡膠磁條吸住,當表頭顯示讀數認為需要記錄時,輕輕按下,即能清晰記下小點,般所需記錄電壓請參閱講義或由課教師定奪,為實驗清晰快捷,每等位線8~10點,然后連接即可。




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