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型號:HAD-CA9000

雙蹤示波器

描述:HAD-CA9000 系列產品雙蹤示波器基于CA8000系列示波器的基礎上結合內外研發而成,在性能擴展和操作易用性上更貼近用戶。

產品性 采用表面貼裝
數字編碼開關,手感輕、可靠性
靈敏度,Z偏轉系數1mV/div
TV同步,可以顯示穩定的TV-H和TV-號
自動聚焦,測量過程中聚焦電平可自動校正
觸發鎖定,觸發電路呈自動同步狀態,人調節觸發電

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2016-09-12
  • 訪問量

    1419
詳細介紹
品牌恒奧德

雙蹤示波器型號:HAD-CA9000  


HAD-CA9000 系列產品雙蹤示波器基于CA8000系列示波器的基礎上結合內外研發而成,在性能擴展和操作易用性上更貼近用戶。

產品性 采用表面貼裝
數字編碼開關,手感輕、可靠性
靈敏度,zui偏轉系數1mV/div
TV同步,可以顯示穩定的TV-H和TV-號
自動聚焦,測量過程中聚焦電平可自動校正
觸發鎖定,觸發電路呈自動同步狀態,人調節觸發電平
交替觸發,能同時觀察兩路不相干信號



垂直系統
靈敏度 1mV~5V/DIV,按1-2-5順序分12檔
度 ≤±3%
微調比 ≥2.5:1
頻寬 DC~40MHz
交耦合:小于10Hz(對于100kHz 8DIV 頻響-3dB)
上升時間 約8.8ns
輸入阻抗 約1MΩ/25pF
方波性 上沖:≤5%(在5mV/DIV范圍內)
DC平衡移動 5mV~5V/DIV:±0.5DIV,1mV~2mV/DIV:±2.0DIV
線性 當波形在格子中心垂直移動時,幅度(2DIV)變化<±0.1DIV
垂直模式 CH1:通道1
CH2:通道2
DUAL:通道1與通道2同時顯示,何掃描速度可選擇交替或斷續方式
ADD:通道1和通道2做代數相加
斷續重復頻率 約250kHz
輸入耦合 AC GND DC
zui大輸入電壓 300V(DC+AC峰值,AC頻率≤1kHz)
當探頭設置在1:1時,zui大有效讀出值為40Vp-p(14Vrms正弦波)
當探頭設置在10:1時,zui大有效讀出值為400Vp-p(140Vrms正弦波)
共模抑制比 在50kHz正弦波>50:1(設定CH1和CH2的靈敏度在相同的情況下)
信號輸出 zui小20mV/div(50Ω輸出頻寬50Hz~5MHz)
兩通道之間的緣 >1000:1 50kHz
>30:1 40MHz
CH2 INV BAL 平衡點變化率≤1DIV(對應于刻度中心)
觸發
觸發信號源 CH1,CH2,LINE,EXT(在DUAL或ADD模式時,CH1、CH2僅可選用個;在ALT模式時,如果TRIG.ALT的開關按下,可以用作兩個不同信號的交替觸發)
性 +/-
靈敏度 10Hz~2MHz:0.5DIV TRIG.ALT:2DIV EXT:200mV
2MHz~20MHz:1.5DIV 20MHz~40MHz:2DIV
TRIG.ALT:3DIV EXT:800mV
TV:同步脈沖<1.5DIV (EXT:1V)
外觸發模式信號zui大輸入阻抗 約1MΩ/25pF
zui大輸入電壓 300V(DC+AC峰值)AC 頻率不大于1kHz
水平系統
掃描時間 0.1uS~0.1S/DIV,按1-2-5順序分為19檔
度 ≤±3%
微調比 ≥2.5:1
掃描擴展 10倍
×MAG掃描時間度 ≤±5%(10ns~50ns未校正)
線性 3%;×10MAG:5%(10ns~50ns未校正)
由×MAG引起的位移 在CRT中心小于2DIV
X-Y模式
靈敏度 同垂直軸
頻寬 DC~500kHz
X-Y相位差 ≤3°(DC~50kHz之間)
Z軸
靈敏度 5Vp-p
頻寬 DC~2MHz
輸入阻抗 約10kΩ
zui大輸入電壓 30V(DC+AC峰值,AC頻率小于或等于1kHz)

校正信號
波形 方波
頻率 約1kHz
占空比 小于48:52
輸出電壓 2Vp-p±2%
輸出阻抗 約1kΩ

CRT示波管
型號 A2119A(40MHz)
顯示顏色、余輝 綠色、中余輝
有效屏幕面積 8×10DIV[1DIV=10MM(0.39in)]
刻度 內
軌跡旋轉 面板可調


物理尺寸
長度 455毫米
寬度 310毫米
度 150毫米
重量 約8Kg


使用環境
溫度要求 0° C 至40° C
相對濕度 ≤85%


電氣規格
AC 輸入電壓 220 VAC ±10%
AC 輸入頻率 50 Hz/60Hz
耗 約40VA 



 
CN61M/CA-9040

 

 

 

2.

產品名稱:半導體激光器測試系統
產品型號:BGS-6311 -X

半導體激光器測試系統 型號:BGS-6311 -X

BGS-6311 -X系列半導體激光器測試系統是種不需附加手段, 在半導體激光器線環境條件下能直接、快速、準確測量各種輸出形式(包括直接輸出、準直輸出和光纖耦合輸出等)的半導體激光器件參量的儀器。具有測試參數范圍廣、能齊、自動化程度、操作使用方便可靠、測試度等點。尤其在大率管芯直接輸出激光參量測試方面是其它儀器所無法替代的。
該系統由探測器、采樣器、角度控制器、信號處理器、計算機等單元組成。根據用戶的測試要求選擇配置。 可以測量: 激光輸出率、電曲線(P-I)、管壓降、電曲線(V-I)、 閾值電(Ith)、作電(Io)、作電壓(Vo)、斜率效率(Es)、微分電阻(Rd)、率效率(Ep)、發射光譜(λ, δλ)。
同時,可以根據用戶需求訂制個性化產品。
入射窗孔徑 Φ15~25 mm
激光率測量范圍 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可選
不確定度 5%
作電測量范圍 0~2A、0~50A、0~150A可選
不確定度 3%
發散角測量范圍 -60~+60度
光譜測量范圍 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm
校準波長 808nm或用戶的其它波長
電壓測量范圍 0~4V、0~50V、0~150V可選
驅動電源 連續電源 0~2A, 4V、0~50A,40V可選
脈沖電源 0~50A、0~150A, 200V可選
  可根據用戶需求訂制

 

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