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1. 無線壓電互感器變比測試儀 型號:HAD-9500
產品點
測量:低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測試監控;變壓器兩側電大小、變比在線測試監控;空電、漏電測試;二次回路核相、相序判斷能。
無線壓變比測試儀突破傳統結構,為測量低壓二次回路的電、變比、漏電而心制的,采用CT及掩膜數字集成,由用壓檢測儀、低壓電鉗、主機、壓緣桿、監控軟件等組成,其無線傳送測試數據能穿透多層樓房障礙,直線傳輸距離達300米。若不使用緣桿,還可以當作度低壓鉗形電表、漏電表使用,能準確測出0.01mA~1000A的電或漏電。
能 低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測試監控;變壓器兩側電大小、變比在線測試監控;空電、漏電測試;二次回路核相、相序判斷能
電 源 DC6V 堿性干電池(1.5V AAA×4)
測試方式 鉗形CT
傳輸方式 無線傳輸,直線傳輸zui大距離約30m
顯示模式 LCD:128dots×64dots;
藍屏背光能,適合昏暗場所
LCD尺寸 顯示域:44mm×27mm
儀表尺寸 主機:寬厚75mm×170mm×30mm
壓電鉗:76mm×255mm×31mm
低壓尖嘴電鉗:寬厚40mm×138mm×20mm
鉗口尺寸 壓電鉗:φ48mm
低壓尖嘴電鉗:φ7.5mm×14mm
采樣速率 約2次/秒
測量范圍 壓檢測儀:0.1mA~1000A
低壓電鉗:0.01mA~6A
分 辨 率 壓電鉗:0.1mA
低壓電鉗:0.01mA
換 檔 0.01mA~1000A自動換檔
次回路測試zui度 ±1%±3dgt (23℃±3℃,80%RH以下)
二次回路測試度 ±0.5%±3dgt(23℃±3℃,70%RH以下)
變 比 1:1千(1.0K7)
3種變比顯示:二次回路實測電變比;以二次回路5A的折算變比;10KV-YY的折算變比
數據存儲 2800組,按HOLD鍵保持數據并自動編號存儲(掉電或更換電池不會丟失數據)
線路電壓 60KV以下線路測試(帶5節緣桿操作)
數據保持 按HOLD鍵保持數據,HOLD符號顯示,再按HOLD鍵取消保持
數據查閱 按HOLD鍵+POWER鍵可以入數據查閱模式
溢出顯示 量程溢出能:“OL A"符號顯示
無信號示 當主機沒有收到發射信號時提示“無信號"
自動關機 開機約15分鐘后,儀表自動關機,以降低電池消耗(可以取消自動關機能)
電池電壓 當電池電壓低于4.8V時,電池電壓低符號顯示,提醒更換電池
儀表質量 主機:約240g(含電池)
壓檢測儀:約335g(含電池)
低壓尖嘴電鉗:約190g(標配)
儀表總質量:約2.8Kg(含緣桿和電池)
外界干擾 無強電磁場;無433MHz同頻干擾
作溫濕度 -25℃~45℃; 80%Rh以下
存放溫濕度 -10℃~60℃; 70%Rh以下
緣桿尺寸 φ32mm,1m/節(5節)
低壓電鉗引線長 標準2米(可以根據現場距離加長,實現0~50米遠距離在線監控)
緣強度 壓檢測儀:AC100kV/rms (5節緣桿與壓電鉗鉗芯之間)
主機與低壓電鉗:AC1000V/rms
結 構 防滴漏Ⅱ型(壓檢測儀)
2.手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.HAD 標準。
儀器成套組成:由HAD-3主機、選配的四探針探頭等二分組成,也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、能轉換采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校能;手動/自動轉換量程可選;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點與選型參考》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
方塊電阻: 0.050~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:
直 徑:HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度:測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等
量程(Ω-cm/□) | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測試范圍 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重:≤0.3kg
3. 數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀 型號:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
主機主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;電壓電自動轉換量程;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類能,zui大分類10類。
探頭選配:根據不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配:般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選HAD-T-K型測試臺,也可選配HAD-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配HAD-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率(括號內為可向下拓展1個數量)
電 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方塊電阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑: HAD-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長()度: 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
量程劃分及誤差等
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
常規量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- | ||||
zui大拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本誤差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB | ±1.0%FSB ±4LSB |
作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外形尺寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm()
凈 重:≤1.5~2.0kg
4. 自動表面/界面張力儀/表面張力儀 型號:HA/BZY-203
HA/BZY系列自動表面/界面張力儀除了升降系統是手動操作外,。具有性能,經濟型定位的點,有著的性價比。
主要征:
1. 鉑金板或鉑金環測試原理,操作簡單方便;
2. 自動數字化測量,減少人為操作誤差;
3. 量程鍵清零,瞬間成,零位無漂移;
4. 量程自動校正,數據準確可靠、重復性好;
5. 鉑金板測試時,顯示值即為試樣的表面/界面張力值,鉑金環測試時,具有峰值保持能,需通過Exce計算或通過數據處理軟件自動換算成表面/界面張力值;
6. 儀器結構緊湊,立作。也可選配數據處理軟件,得到更多的信息;
7. 能測量試樣的表面張力因時間不同而產生的變化(別是有表面活性劑或含有揮發性物質時,限鉑金板測試模式下);
8. 自動量測中、粘度液體樣品并得到準確的平衡結果(限于鉑金板測試模式);
9. 可測量不相混合液體之間界面張力如:油/水界面;
10.可取代傳統機械式表面張力儀,且度更、重復性、使用更方便;
11.本系列儀器除了手動控制試樣平臺升降外,主要結構和參數與QBZY系列相仿,具有、經濟型價格,性價比。
主要參數:
型號 | 測試模式 | 測量范圍 | 測量度 | 準確性誤差 | 重復性誤差 | 試樣恒溫范圍 | 防風罩 |
HA/BZY-101 (HA/BZY-A) | 鉑金板法 | 0-600mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0-120℃ | 無 |
HA/BZY-102 (HA/BZY-B) | 鉑金環法 | 0-600mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0-120℃ | 無 |
HA/BZY-103 | 板/環兼用 | 0-600mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0.1mN/m | 0-120℃ | 無 |
HA/BZY-201 | 鉑金板法 | 0-400mN/m | 0.01mN/m | 0.04mN/m | 0.04mN/m | 15-60℃ | 有 |
HA/BZY-202 | 鉑金環法 | 0-400mN/m | 0.01mN/m | 0.04mN/m | 0.04mN/m | 15-60℃ | 有 |
HA/BZY-203 | 板/環兼用 | 0-400mN/m | 0.01mN/m | 0.04mN/m | 0.04mN/m | 15-60℃ | 有 |
注:準確性誤差、重復性誤差都是測試標準物質(2次蒸餾水或純乙醇)與文獻值的差異
5. 大直徑激光測徑儀 激光測徑儀 型號:HA/LDM100
概述
HA/LDM100/HA/LDM150外徑測控裝置(大直徑激光測徑儀)是采用激光掃描原理行非接觸在線測量的度測控裝置,主要應用于各種電線、電纜、管材的線中,對外徑行測量并調節擠出機螺桿速度或牽引機速度,達到控制外徑的目的。也可應用于件的外徑和尺寸測量。配以輔助裝置可用于各種回轉體的錐度、圓度、軸向跳動等的測量。
二產品型號及性能標:
產品名稱
型號
測量范圍
度
分辨率
備注
大直徑激光測徑儀
HA/LDM100
0.2-100mm
0.02
0.001
定點標定后24小時內度為:0.005
單向測量,穩定可靠;用于膠輥、膠管、玻璃管、軸、電纜檢測等。
HA/LDM150
0.2-150mm
0.02
0.001
HA/LDM210 0.2-210mm 0.02 0.001
測量方式:激光掃描法
激光器:紅色可視半導體激光器
激光器輸出率:<2mW
作電壓:~220V±15% 50--60Hz
作溫度:-10~40℃
環境濕度:<85%RH
作方式:連續
耗 電:<30W
外形尺寸:
HA/LDM100測量頭(不含支架) 500mm(長)X60mm(寬)X240mm()
HA/LDM150測量頭(不含支架) 910mm(長)X80mm(寬)X292mm()
HA/LDM210測量頭(不含支架) 910mm(長)X80mm(寬)X292mm()
支架:350X200X(700-1000)mm
測量位置中心:900-1200mm可調
點:
適用于金屬線材、玻璃管、膠管、電線電纜等
可連接PLC、控機、用控制器、可連接大屏幕顯示器
可配PROFIBUS-DP和MODBUS轉換器與PLC、控機連接
可配遠程控制器DDC-2、DDC-3、DDC-5,對擠出機和牽引機行自動反饋控制,使外徑控制在公差范圍內,提產量,降低消耗
溫馨提示:以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的