半導體導電型號鑒別儀型號：JH-WSP-8

JH-WSP-8型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，是采用整效應測量導電型號儀器，測量范圍廣。硅材料電阻率從10-2~104 Ω.cm，儀器采用美16位單片集成電路計算機為核心，利用數字采集濾波，并用“P”“N”數碼直接顯示。采用了單片機可使測量的準確度和穩定性大幅度提。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研需要。

用作太陽能多晶材料分選時，采用整法，對<0.1Ω.cm的材料具有聲光報警能，廣泛應用于太陽能電池的原材料篩選環節，快速。

主要標：

1. 測量范圍：硅單晶材料電阻率10-1~104Ω.cm

2. 可測量材料：半導體硅棒和硅片，及硅碎顆粒。

    可測半導體材料尺寸：Φ5~Φ150mm以上。

3. 顯示方式：P、N燈顯示。

4. 測試探頭：手持式探針間距3mm    探針Φ1mm速鋼

5. 電源：220V 50HZ 20W