貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號:BZ-X-3680
產品詳情:
X-3680 貴金屬檢測儀 |
產品型號:BZ-x-3680 |
產品詳情: BZ-X-3680是種體現X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司門開發的應用軟件,充分發揮各件的優異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。 儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業對不同元素行無損檢測。在不同作環境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測度從PPM別到千分之別。
強勢能 1. 基本參數法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。 2.包裹樣品檢測辨別系統。 3.樣品室清成像定位系統,方便微小樣品定位測量。 4.電制冷與內雙向循環冷卻恒溫系統相結合,維持內作環境穩定。 5. 內動力學風道,快速排出多余熱量。 6.雙峰位快速自動校準。 7.雙箱體結構,抗干擾能力強且方便硬件升。 8.儀器作方法意開發。 9. 定量分析:包括經驗系數法,理論a系數法和基本參數法。 10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。 11.測試報表根據客戶要求立。 12.溫度系數:溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
整機規格 1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
2. 可測試樣品大?。宏P倉測量:220mm×200mm×150mm 開倉測量:無限大 3. 儀器重量:50公斤 4.作環境溫度:0——35℃ 5. 作環境相對濕度:≤80% 6. 元素分析范圍:鋁(Al)——鈾(U) 7. 含量分析范圍:1PPM——99.999% 8.測量時間:10——180秒可調 9. 激發源:低率X射線管 10.壓電源:美Spellman原裝口壓電源 11.探測器:美Amptek原裝口電制冷Si-Pin半導體探測器 12. 儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優于149eV 13.多道分析器:2048道 14.軟件:基于WINDOWS的強大作軟件 15. 客戶可行二次開發,自行開發意多個分析方法 16.作電源:交 220V 50Hz |