本儀器熱探筆內裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內，冷熱探筆在半導體材料上產生的熱電動勢及整法產生的電勢差經低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢計示型號方向。儀器靈敏度分、低兩檔，可判別大分非本征半導體材料型號（從阻單晶到重摻單晶）。

二、性能

1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：

鍺：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經內外實驗證明：在室溫情況下，熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整法結果可靠。

2、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制

3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接示，同時中心刻度為零位檢計也在示型號，針向左偏轉被測樣品為N型，針向右偏轉被測樣品為P型。

5、探針：用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內，冷筆與室溫相同。整法行選用硬質合金作探針。

6、電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，zui大耗（熱筆加熱狀態）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：約 4 kg